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日本山田光學(xué)YP-150I/YP-250I YAMADA高照度鹵素強光燈
根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅
等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等
日本高亮度晶圓表面缺陷檢測鹵素?zé)?br /> 高亮度鹵素光源設(shè)備

是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中*費人工的成形製品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。

概要

1.　可照明様品表面範(fàn)囲於400.000Lx以上。
2.　因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。

3.　冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3

4.　二段切換構(gòu)造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。

YP-150I???照度範(fàn)囲　φ30
YP-250I???照度範(fàn)囲　φ60
（YP-250I的通風(fēng)機可選択螺旋式風(fēng)扇或管道通風(fēng)機形）