大塚電子株式會社主要經(jīng)營范圍:光電技術(shù)的研發(fā)，光電系統(tǒng)集成產(chǎn)品、工業(yè)測定和分析設(shè)備、儀器儀表及相關(guān)零部件的批發(fā)、進(jìn)出口等。大豕為人類更健康而不斷**，懷著「多樣性」「**性」「世界化」的愿景，不斷的推出**產(chǎn)品，面向全球開展業(yè)務(wù)，為社會作出貢獻(xiàn)。以高速·高精度·高可靠性目有市場實際應(yīng)用的分光器MCPD系列為基礎(chǔ)， 在中國的顯示器 市場上有著20年以上銷售實例，為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源·照明 相關(guān)方面，對***研究機(jī)構(gòu)、各個廠家的銷售量在逐步擴(kuò)大。
分光光譜儀:高感度分光光譜儀 紫外/可見/近紅外光分光光譜儀 應(yīng)用范圍: 發(fā)光光譜分析儀系統(tǒng) 反射光譜分析儀系統(tǒng) 穿透、吸收光譜分析儀系統(tǒng) 色度光譜分析儀系統(tǒng) 光源光譜分析儀系統(tǒng)(色度/輝度/照度) 膜厚光譜分析儀系統(tǒng) 董光光譜分析儀系統(tǒng) 雙折射相位差光譜分析儀 微光學(xué)元件光譜分析儀系統(tǒng) 產(chǎn)品規(guī)格: 分光光譜儀-2285C 分光光譜儀-3095C 分光光譜儀-3683C分光光譜儀-311C分光光譜儀-916C波長范圍 220~850nm 300~950nm 360~830nm 360~1100nm 900~1600nm分光系統(tǒng) 平面場型 檢測單位 電子冷卻型CCD圖像傳感器 電子冷卻型InGaAs圖像傳感器 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch理論分辨率 1.4nm 0.7nm 1.4nm 0.7nm 1.0nm 0.5nm 1.6nm 0.8nm 1.9nm光纖規(guī)格 石英光纖、口徑φ12mm、長度約2m 摻鍺石英光纖、長度約2m 星測功能 發(fā)光光譜量測、反射率光譜量測、穿透率光譜量測、吸收光譜量測尺寸重量 110(W)x230(H)x282(D)mm，約6kg 產(chǎn)品特點: *高動態(tài)范圍(HDR)光譜儀可量測透明、低對比、高反射率樣品，*適用于量測光通量。*有效抑制雜散光，*適合UV光譜分析。相較于本公司歷代分光光度計，雜光率僅約五分之一*曝光時間5msec~65sec*。適用于量測微弱光源以及架設(shè)于生產(chǎn)線上即時檢測等多元應(yīng)用。"經(jīng)過特殊設(shè)計纏系統(tǒng)光纖，展現(xiàn)穩(wěn)定的重復(fù)再現(xiàn)性量測，*小巧輕量化的設(shè)計，相較于歷代機(jī)型，容積比約減少60%。
紫外/可見/近紅外光分光光譜儀 產(chǎn)品規(guī)格 型號規(guī)格28C311C3593C 波長范圍 220~800 nm 330~1100 nm 350~930 nm 分光元件 全息成像光柵、F=3、f=135mm 波長精度*1 ±0,3 nm>±0.5 nm ±0.3 nm 感光元件*2 電子制冷型CCD影像感測器 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch解析能力 1.2nm 0.6nm 1.7nm 0.9nm 1.3nm 0.6nm 曝光時間*3 20msec~20sec 光纖規(guī)格 石英制光纖、固定口徑12mm、長約1m 通訊介面 USB Or LAN 尺寸重量 300(W)x170(H)x350(D)mm、約10kg *1 波長校正用光源對汞物理輝線之確認(rèn)值 *2 可選擇512ch或1024ch *3 感度設(shè)定為Normal時 產(chǎn)品特點: *多通道分光光譜儀高速量測紫外光(UV)、可見光(VIS)、近紅外光(NIR)光譜。 *功能豐富的專用軟體，可進(jìn)行顯微分光、發(fā)光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測。 采用更專業(yè)的CCD影像感測器，感光能力較MCPD-3700約高出200~700倍，在微弱光領(lǐng)域亦實現(xiàn)了20~30倍的高信噪比。 **適用于低輝度(0.3cd/m2)，如螢光、電漿發(fā)光等微弱光以及光源、顯示器量測。 *搭配功能豐富的專用軟體，可進(jìn)行顯微分光、發(fā)光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測。 可架設(shè)于生產(chǎn)線上、真空環(huán)境或嵌入于現(xiàn)有設(shè)備中即時量測。
三.膜厚儀:顯微分光膜厚儀 反射式厚量測儀 橢m 360~1100nm 900~1600nm膜厚量測儀 膜厚光譜分析儀系統(tǒng) 顯微分光障厚是狽 儀 應(yīng)用范圍: * FPD ·LCD、TFT、OLED(有機(jī)EL) * 半導(dǎo)體、復(fù)合半導(dǎo)體 ·矽ct time Measurement Time 1秒/1 * 盜料儲存 ·DVD、磁頭薄膜、磁性材料 * 光學(xué)材料 ·濾光片、抗反射膜 *平面顯示器 液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED *薄膜 ·AR膜 *其它 ·建筑用材料 產(chǎn)品規(guī)格 型號OP-A1OP-A2 OP-A3 波長范圍 230~800nm 360~1100nm 900~1600nm 膜厚范圍 1nm~35um 7nm~49um 16nm~92um 樣品尺寸 Max.200mmx200mmx17mm 點徑φp 5um(反射40倍鏡頭)，改造后可達(dá)到3um tact time Measurement Time 1秒/1點 尺寸本體(W555xD537xH559mm),控制單元(W500xD180xH288mm)功用750 VA *1上述式樣是帶有自動XY平臺。 *2 release 時期 是OP-A1在2016年6月末、OP-A2、OP-A3預(yù)定2016年9月 *3 膜厚范圍是Si02換算: 產(chǎn)品特點: *膜厚測量中必要的功能集中于頭部, *通過顯微分光高精度測量**反射率(多層膜厚、光學(xué)常數(shù)) *1點只需不到1秒的高速tact. *實現(xiàn)了顯微下廣測量波長范圍的光學(xué)系(紫外~近紅外) *通過區(qū)域傳感器控制的**構(gòu)造， *搭載可私人定制測量順序的強大功能。 *即便是沒有經(jīng)驗的人也可輕松解析光學(xué)常數(shù), 各種私人定制對應(yīng)(固定平臺，有嵌入式測試頭式樣)
四.反射式膜厚量測儀:
控制單元自動stage 手動stage尺寸·重量300(W)mmx710(H)mmx450(D)mm約34kg 300(W)mmx380 (H)mmx450(D)mm約18kg
電源 規(guī)格AC100V+10V 750VA AC100V+10V 500VA